Κίνα FCM2000W Τύπος υπολογιστή Μεταλλογραφικό Μικροσκόπιο εργοστάσιο και κατασκευαστές |Chengyu

FCM2000W Μεταλλογραφικό μικροσκόπιο τύπου υπολογιστή

Προσδιορισμός

FCM2000W Εισαγωγή

Το μεταλλογραφικό μικροσκόπιο τύπου υπολογιστή FCM2000W είναι ένα τριόφθαλμο ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο, το οποίο χρησιμοποιείται για τον εντοπισμό και την ανάλυση της συνδυασμένης δομής διαφόρων μετάλλων και υλικών κραμάτων.Χρησιμοποιείται ευρέως σε εργοστάσια ή εργαστήρια για την αναγνώριση της ποιότητας χύτευσης, την επιθεώρηση πρώτων υλών ή μετά την επεξεργασία υλικού.Ανάλυση μεταλλογραφικών δομών και ερευνητικές εργασίες σε ορισμένα επιφανειακά φαινόμενα όπως ο επιφανειακός ψεκασμός.μεταλλογραφική ανάλυση χάλυβα, μη σιδηρούχων μετάλλων υλικών, χυτών, επιστρώσεων, πετρογραφικής ανάλυσης γεωλογίας και μικροσκοπικής ανάλυσης ενώσεων, κεραμικών κ.λπ. στον βιομηχανικό τομέα αποτελεσματικά μέσα έρευνας.

Μηχανισμός εστίασης

Υιοθετείται ο μηχανισμός ομοαξονικής εστίασης χονδροειδούς και λεπτής ρύθμισης θέσης κάτω χεριού, ο οποίος μπορεί να ρυθμιστεί στην αριστερή και δεξιά πλευρά, η ακρίβεια λεπτομέρειας είναι υψηλή, η χειροκίνητη ρύθμιση είναι απλή και βολική και ο χρήστης μπορεί εύκολα να αποκτήσει σαφή και άνετη εικόνα.Η χονδροειδής διαδρομή ρύθμισης είναι 38 mm και η ακρίβεια λεπτής ρύθμισης είναι 0,002.

Μηχανική φορητή πλατφόρμα

Υιοθετεί μια πλατφόρμα μεγάλης κλίμακας 180×155 mm και τοποθετείται στη θέση του δεξιού χεριού, η οποία είναι σύμφωνη με τις συνήθειες λειτουργίας των απλών ανθρώπων.Κατά τη λειτουργία του χρήστη, είναι βολικό να κάνετε εναλλαγή μεταξύ του μηχανισμού εστίασης και της κίνησης της πλατφόρμας, παρέχοντας στους χρήστες ένα πιο αποτελεσματικό περιβάλλον εργασίας.

Σύστημα φωτισμού

Σύστημα φωτισμού Kola τύπου Epi με διάφραγμα μεταβλητού ανοίγματος και κεντρικό ρυθμιζόμενο διάφραγμα πεδίου, υιοθετεί προσαρμοστική ευρεία τάση 100V-240V, υψηλή φωτεινότητα 5W, φωτισμό LED μεγάλης διάρκειας ζωής.

FCM2000W Πίνακας διαμόρφωσης

Διαμόρφωση		Μοντέλο
Είδος	Προσδιορισμός	FCM2000W
Οπτικό σύστημα	Οπτικό σύστημα πεπερασμένης εκτροπής	·
σωλήνας παρατήρησης	Κλίση 45°, τριόφθαλμος σωλήνας παρατήρησης, εύρος ρύθμισης απόστασης μεταξύ της κόρης: 54-75 mm, λόγος διάσπασης δέσμης: 80:20	·
προσοφθάλμιο	Προσοφθάλμιο με μεγάλο οπτικό σημείο PL10X/18mm	·
	Προσοφθάλμιο μεγάλο οπτικό πεδίο υψηλών σημείων PL10X/18mm, με μικρόμετρο	O
	Προσοφθάλμιο μεγάλο πεδίο υψηλού ματιού WF15X/13mm, με μικρόμετρο	O
	Προσοφθάλμιο μεγάλο πεδίο υψηλού ματιού WF20X/10mm, με μικρόμετρο	O
Στόχοι (Σχέδιο μακράς ρίψης αχρωματικοί στόχοι)	LMPL5X /0,125 WD15,5mm	·
	LMPL10X/0,25 WD8,7mm	·
	LMPL20X/0,40 WD8,8mm	·
	LMPL50X/0,60 WD5,1mm	·
	LMPL100X/0,80 WD2,00mm	O
μετατροπέας	Εσωτερικός μετατροπέας τεσσάρων οπών τοποθέτησης	·
μετατροπέας	Εσωτερικός μετατροπέας τοποθέτησης πέντε οπών	O
Μηχανισμός εστίασης	Ομοαξονικός μηχανισμός εστίασης για αδρή και λεπτή ρύθμιση στη θέση χαμηλού χεριού, η διαδρομή ανά περιστροφή χονδροειδούς κίνησης είναι 38 mm.η ακρίβεια λεπτής ρύθμισης είναι 0,02 mm	·
Στάδιο	Μηχανική φορητή πλατφόρμα τριών επιπέδων, επιφάνειας 180mmX155mm, δεξιόχειρο χαμηλό χειριστήριο, διαδρομή: 75mm×40mm	·
τραπέζι εργασίας	Μεταλλική πλάκα σκηνής (κεντρική οπή Φ12mm)	·
Σύστημα επιφωτισμού	Σύστημα φωτισμού Kola τύπου Epi, με διάφραγμα μεταβλητού ανοίγματος και κεντρικό ρυθμιζόμενο διάφραγμα πεδίου, προσαρμοζόμενη ευρεία τάση 100V-240V, μονό φως LED θερμού χρώματος 5W, ένταση φωτός συνεχώς ρυθμιζόμενη	·
Σύστημα επιφωτισμού	Σύστημα φωτισμού Kola τύπου Epi, με διάφραγμα μεταβλητού ανοίγματος και κεντρικό ρυθμιζόμενο διάφραγμα πεδίου, προσαρμοζόμενη ευρεία τάση 100V-240V, λάμπα αλογόνου 6V30W, ένταση φωτός συνεχώς ρυθμιζόμενη	O
Αξεσουάρ πόλωσης	Πλακέτα πολωτή, σταθερή πλακέτα αναλυτή, περιστρεφόμενη πλακέτα αναλυτή 360°	O
φίλτρο χρώματος	Κίτρινα, πράσινα, μπλε, παγωμένα φίλτρα	·
Σύστημα Μεταλλογραφικής Ανάλυσης	Λογισμικό μεταλλογραφικής ανάλυσης JX2016, συσκευή κάμερας 3 εκατομμυρίων, διεπαφή φακού προσαρμογέα 0,5X, μικρόμετρο	·
υπολογιστή	HP business jet	O

Σημείωση："· "πρότυπο;"O"προαιρετικός

Λογισμικό JX2016

Το «επαγγελματικό λειτουργικό σύστημα ποσοτικής ανάλυσης μεταλλογραφικών εικόνων» διαμορφωμένο από το σύστημα ανάλυσης μεταλλογραφικών εικόνων διεργασίες και σύγκριση, ανίχνευση, βαθμολογία, ανάλυση, στατιστικά στοιχεία και γραφικές αναφορές εξόδου σε πραγματικό χρόνο των συλλεγόμενων δειγμάτων χαρτών.Το λογισμικό ενσωματώνει τη σημερινή προηγμένη τεχνολογία ανάλυσης εικόνας, η οποία είναι ο τέλειος συνδυασμός μεταλλογραφικού μικροσκοπίου και τεχνολογίας έξυπνης ανάλυσης.DL/DJ/ASTM, κ.λπ.).Το σύστημα διαθέτει όλες τις κινεζικές διεπαφές, οι οποίες είναι συνοπτικές, σαφείς και εύχρηστες.Μετά από απλή εκπαίδευση ή αναφορά στο εγχειρίδιο οδηγιών, μπορείτε να το χειριστείτε ελεύθερα.Και παρέχει μια γρήγορη μέθοδο για την εκμάθηση της μεταλλογραφικής κοινής λογικής και τη διάδοση των λειτουργιών.

JX2016 Λειτουργίες λογισμικού

Λογισμικό επεξεργασίας εικόνων: περισσότερες από δέκα λειτουργίες όπως η λήψη εικόνων και η αποθήκευση εικόνων.

Λογισμικό εικόνας: περισσότερες από δέκα λειτουργίες όπως βελτίωση εικόνας, επικάλυψη εικόνας κ.λπ.

Λογισμικό μέτρησης εικόνας: δεκάδες λειτουργίες μέτρησης, όπως η περίμετρος, η περιοχή και το ποσοστό περιεχομένου.

Λειτουργία εξόδου: έξοδος πίνακα δεδομένων, έξοδος ιστογράμματος, έξοδος εκτύπωσης εικόνας.

Ειδικά πακέτα μεταλλογραφικού λογισμικού:

Μέτρηση και βαθμολόγηση μεγέθους κόκκου (εκχύλιση ορίων κόκκων, ανακατασκευή ορίων κόκκων, μονοφασική, διπλή φάση, μέτρηση μεγέθους κόκκων, βαθμολογία).

Μέτρηση και βαθμολογία μη μεταλλικών εγκλεισμάτων (συμπεριλαμβανομένων των σουλφιδίων, οξειδίων, πυριτικών αλάτων κ.λπ.).

Μέτρηση και βαθμολογία περιεκτικότητας σε περλίτη και φερρίτη.μέτρηση και βαθμολογία οζιδίων γραφίτη από όλκιμο σίδηρο.

Στρώμα απανθράκωσης, μέτρηση ενανθρακωμένης στρώσης, μέτρηση πάχους επιφανειακής επίστρωσης.

Μέτρηση βάθους συγκόλλησης;

Μέτρηση περιοχής φάσης φερριτικού και ωστενιτικού ανοξείδωτου χάλυβα.

Ανάλυση πρωτογενούς πυριτίου και ευτηκτικής πυριτίου από κράμα αλουμινίου υψηλής περιεκτικότητας σε πυρίτιο.

Ανάλυση υλικού από κράμα τιτανίου... κ.λπ.

Περιέχει μεταλλογραφικούς άτλαντες σχεδόν 600 συνήθως χρησιμοποιούμενων μεταλλικών υλικών για σύγκριση, που πληρούν τις απαιτήσεις των περισσότερων μονάδων για μεταλλογραφική ανάλυση και επιθεώρηση.

Λόγω της συνεχούς αύξησης των νέων υλικών και των εισαγόμενων υλικών ποιότητας, τα υλικά και τα πρότυπα αξιολόγησης που δεν έχουν καταχωρηθεί στο λογισμικό μπορούν να προσαρμοστούν και να εισαχθούν.