Κίνα FCM2000W Τύπος Υπολογιστών Μεταλλογραφικό Μικροσκόπιο Εργοστάσιο και Κατασκευαστές

FCM2000W Τύπος υπολογιστή Μεταλογραφική μικροσκόπηση

FCM2000W Τύπος υπολογιστή Μεταλογραφικό μικροσκόπιο

Προσδιορισμός

Εισαγωγή FCM2000W

Το μεταλλογραφικό μικροσκόπιο τύπου υπολογιστή FCM2000W είναι ένα τριφθένο ανεστραμμένο μεταλλογραφικό μικροσκόπιο, το οποίο χρησιμοποιείται για τον εντοπισμό και την ανάλυση της συνδυασμένης δομής διαφόρων μετάλλων και κραμάτων. Χρησιμοποιείται ευρέως σε εργοστάσια ή εργαστήρια για την ταυτοποίηση της ποιότητας, την επιθεώρηση πρώτων υλών ή μετά την επεξεργασία υλικών. Ανάλυση μεταλλογραφικής δομής και ερευνητικές εργασίες σε ορισμένα επιφανειακά φαινόμενα όπως ο ψεκασμός επιφάνειας. Μεταλλογραφική ανάλυση χάλυβα, μη σιδηρούχα μεταλλικά υλικά, χυτά, επικαλύψεις, πετρογραφική ανάλυση της γεωλογίας και μικροσκοπική ανάλυση ενώσεων, κεραμικών κλπ. Στο βιομηχανικό πεδίο αποτελεσματικά μέσα έρευνας.

Μηχανισμός εστίασης

Η κατώτατη θέση του χεριού χοντρό και λεπτού ρυθμιστικού μηχανισμού εστίασης, ο οποίος μπορεί να ρυθμιστεί στην αριστερή και τη δεξιά πλευρά, η ακρίβεια ρύθμισης είναι υψηλή, η χειροκίνητη ρύθμιση είναι απλή και βολική και ο χρήστης μπορεί εύκολα να αποκτήσει σαφή και άνετη εικόνα. Το εγκεφαλικό επεισόδιο ρύθμισης είναι 38mm και η ακρίβεια της λεπτής ρύθμισης είναι 0,002.

Μηχανική πλατφόρμα κινητής τηλεφωνίας

Υιοθετεί μια πλατφόρμα μεγάλης κλίμακας 180 × 155mm και βρίσκεται στη θέση του δεξιού, η οποία ευθυγραμμίζεται με τις συνήθειες λειτουργίας των απλών ανθρώπων. Κατά τη διάρκεια της λειτουργίας του χρήστη, είναι βολικό να εναλλάσσετε μεταξύ του μηχανισμού εστίασης και της κίνησης της πλατφόρμας, παρέχοντας στους χρήστες ένα πιο αποτελεσματικό εργασιακό περιβάλλον.

Σύστημα φωτισμού

Σύστημα φωτισμού KOLA τύπου EPI με διάφραγμα διαφράγματος μεταβλητού διαφράγματος και διάταγμα ρυθμιζόμενου πεδίου, υιοθετεί προσαρμοστική ευρεία τάση 100V-240V, 5W υψηλής φωτεινότητας, μεγάλης διάρκειας ζωής LED LED.

Πίνακας διαμόρφωσης FCM2000W

Διαμόρφωση		Μοντέλο
Είδος	Προσδιορισμός	FCM2000W
Οπτικό σύστημα	Οπτικό σύστημα πεπερασμένων εκτροπών	·
σωλήνας παρατήρησης	45 ° κλίση, τρικλικός σωλήνας παρατήρησης, περιοχή ρύθμισης διαπερατότητας απόστασης: 54-75mm, αναλογία διάσπασης δέσμης: 80: 20	·
προσοφθάλμιο	Υψηλό σημείο ματιών Μεγάλο σχέδιο πεδίου προσοφθάλμιο pl10x/18mm	·
	Υψηλό σημείο ματιών Μεγάλο πεδίο Σχέδιο προσοφθάλματος PL10X/18mm, με μικρόμετρο	O
	Υψηλό σημείο ματιών Μεγάλο προσοφθάλμιο πεδίο WF15X/13mm, με μικρόμετρο	O
	Υψηλό σημείο ματιών Μεγάλο προσοφθάλμιο πεδίο WF20X/10mm, με μικρόμετρο	O
Στόχοι (μακρύ σχέδιο Αχρωματικών στόχων)	LMPL5X /0.125 WD15.5mm	·
	LMPL10X/0.25 WD8.7mm	·
	LMPL20X/0.40 WD8.8mm	·
	LMPL50X/0.60 WD5.1mm	·
	LMPL100X/0.80 WD2.00mm	O
μετατροπέας	Εσωτερική τοποθέτηση τεσσάρων οπών	·
μετατροπέας	Εσωτερική τοποθέτηση μετατροπέα πέντε οπών	O
Μηχανισμός εστίασης	Μηχανισμός ομοαξονικής εστίασης για χονδροειδή και λεπτή ρύθμιση σε χαμηλή θέση, το εγκεφαλικό επεισόδιο ανά επανάσταση της χονδροειδούς κίνησης είναι 38 mm. Η ακρίβεια πρόσθετης προσαρμογής είναι 0,02 mm	·
Στάδιο	Μηχανική πλατφόρμα κινητής τηλεφωνίας τριών στρώσεων, Περιοχή 180mmx155mm, δεξιό χέρι χαμηλού χεριού, εγκεφαλικό επεισόδιο: 75mm × 40mm	·
τραπέζι εργασίας	Μεταλλική πλάκα σκηνής (κεντρική οπή φ12mm)	·
Σύστημα epi-illumination	Σύστημα φωτισμού τύπου EPI-τύπου, με διάφραγμα μεταβλητής διάφραγμα και κεντρικό ρυθμιζόμενο διάφραγμα πεδίου, προσαρμοστική ευρεία τάση 100V-240V, μονό 5W ζεστό φως LED LED, ένταση φωτός συνεχώς ρυθμιζόμενη	·
Σύστημα epi-illumination	Σύστημα φωτισμού KOLA τύπου EPI, με διάφραγμα διαφράγματος μεταβλητής διάφραγμα και κεντρικό διαφράγματος πεδίου, προσαρμοστική ευρεία τάση 100V-240V, λυχνία αλογόνου 6V30W, ένταση φωτός συνεχώς ρυθμιζόμενη	O
Πολωτικά αξεσουάρ	Board Polarizer, Σταθερός Πίνακας Αναλυτών, Πίνακας αναλυτών 360 °	O
έγχρωμο φίλτρο	Κίτρινα, πράσινα, μπλε, παγωμένα φίλτρα	·
Σύστημα μεταλλογραφικής ανάλυσης	Λογισμικό μεταλλογραφικής ανάλυσης JX2016, 3 εκατομμύρια συσκευή κάμερας, διασύνδεση φακού προσαρμογέα 0,5x, μικρόμετρο	·
ηλεκτρονικός υπολογιστής	HP Business Jet	O

Σημείωμα: "· "πρότυπο;"O"προαιρετικός

Λογισμικό JX2016

Το "Επαγγελματικό Ποσοτικό Μεταλλογραφικό Λειτουργικό Σύστημα Υπολογιστών Εικόνα" που έχει ρυθμιστεί από τις διαδικασίες του συστήματος μεταλλογραφικής εικόνας και τη σύγκριση σε πραγματικό χρόνο, την ανίχνευση, την αξιολόγηση, την ανάλυση, τις στατιστικές και τις γραφικές αναφορές εξόδου των χαρτών δείγματος που συλλέγονται. Το λογισμικό ενσωματώνει τη σημερινή τεχνολογία ανάλυσης εικόνων, η οποία είναι ο τέλειος συνδυασμός μεταλλογραφικού μικροσκοπίου και τεχνολογίας ευφυούς ανάλυσης. DL/DJ/ASTM, κλπ.). Το σύστημα διαθέτει όλες τις κινεζικές διεπαφές, οι οποίες είναι συνοπτικές, σαφείς και εύκολο στη λειτουργία. Μετά από απλή εκπαίδευση ή αναφορά στο εγχειρίδιο οδηγιών, μπορείτε να το χειριστείτε ελεύθερα. Και παρέχει μια γρήγορη μέθοδο για την εκμάθηση μεταλλογραφικών κοινόχρηστων και λαϊκών επιχειρήσεων.

Λειτουργίες λογισμικού JX2016

Λογισμικό επεξεργασίας εικόνων: Περισσότερες από δέκα λειτουργίες όπως η απόκτηση εικόνων και η αποθήκευση εικόνων.

Λογισμικό εικόνας: Περισσότερες από δέκα λειτουργίες όπως η βελτίωση της εικόνας, η επικάλυψη εικόνων κ.λπ.

Λογισμικό μέτρησης εικόνας: Δεκάδες λειτουργίες μέτρησης όπως η περίμετρο, η περιοχή και το ποσοστό περιεχομένου.

Λειτουργία εξόδου: Έξοδος πίνακα δεδομένων, έξοδος ιστόγραμμα, έξοδος εκτύπωσης εικόνας.

Αφιερωμένα μεταλλογραφικά πακέτα λογισμικού:

Μέτρηση και βαθμολογία μεγέθους κόκκων (εκχύλιση οριακών κόκκων, ανακατασκευή ορίων κόκκων, μονή φάση, διπλή φάση, μέτρηση μεγέθους κόκκων, βαθμολογία).

Μέτρηση και αξιολόγηση μη μεταλλικών εγκλεισμάτων (συμπεριλαμβανομένων σουλφιδίων, οξειδίων, πυριτικών αλάτων κ.λπ.).

Μέτρηση και αξιολόγηση περιεχομένου μαργαριταριού και φερρίτη. Ομοίως και αξιολόγηση της μέτρησης και της αξιολόγησης του ορυκτού σιδήρου.

Στρώμα αποκρουστικής, μέτρηση στρώματος καρμπουργίας, μέτρηση πάχους επιφάνειας επιφάνειας.

Μέτρηση βάθους συγκόλλησης.

Μέτρηση φάσης των φερριτικών και ωστενιτικών ανοξείδωτων χάλυβες.

Ανάλυση πρωτογενούς πυριτίου και ευτηκτικού πυριτίου υψηλού κράματος αλουμινίου πυριτίου.

Ανάλυση υλικού κράματος τιτανίου ... κλπ.

Περιέχει μεταλλογραφικές άτλαντες περίπου 600 κοινώς χρησιμοποιούμενων μεταλλικών υλικών για σύγκριση, ικανοποιώντας τις απαιτήσεις των περισσότερων μονάδων για μεταλλογραφική ανάλυση και επιθεώρηση.

Λόγω της συνεχούς αύξησης των νέων υλικών και των εισαγόμενων υλικών, υλικών και προτύπων αξιολόγησης που δεν έχουν εισαχθεί στο λογισμικό μπορούν να προσαρμοστούν και να εισαχθούν.